Ugrás a tartalomhoz

Szemcsehatárok transzmissziós elektronmikroszkópos vizsgálati módszereinek fejlesztése = Development of characterization methods for grain boundaries using transmission electron microscopes

  • Metaadatok
Tartalom: http://real-phd.mtak.hu/625/
Archívum: REAL-PhD
Gyűjtemény: Status = Defended
Type = Thesis
University = Pannon Egyetem
Subject = T Technology / alkalmazott, műszaki tudományok: T2 Technology (General) / műszaki tudományokáltalában
Cím:
Szemcsehatárok transzmissziós elektronmikroszkópos vizsgálati módszereinek fejlesztése = Development of characterization methods for grain boundaries using transmission electron microscopes
Létrehozó:
Kiss, Ákos Koppány
Kiadó:
Pannon Egyetem
Dátum:
2016
Téma:
T2 Technology (General) / műszaki tudományokáltalában
Nyelv:
angol
Típus:
Thesis
NonPeerReviewed
Formátum:
text
Azonosító:
Kiss, Ákos Koppány (2016) Szemcsehatárok transzmissziós elektronmikroszkópos vizsgálati módszereinek fejlesztése = Development of characterization methods for grain boundaries using transmission electron microscopes. PhD thesis, Pannon Egyetem.
Kapcsolat:
MTMT:3237543; doi:10.18136/PE.2016.621