Kereső
Bejelentkezés
Kapcsolat
Betűméret: Súgó
Szemcsehatárok transzmissziós elektronmikroszkópos vizsgálati módszereinek fejlesztése = Development of characterization methods for grain boundaries using transmission electron microscopes |
Tartalom: | http://real-phd.mtak.hu/625/ |
---|---|
Archívum: | REAL-PhD |
Gyűjtemény: |
Status = Defended
Type = Thesis University = Pannon Egyetem Subject = T Technology / alkalmazott, műszaki tudományok: T2 Technology (General) / műszaki tudományokáltalában |
Cím: |
Szemcsehatárok transzmissziós elektronmikroszkópos vizsgálati módszereinek fejlesztése = Development of characterization methods for grain boundaries using transmission electron microscopes
|
Létrehozó: |
Kiss, Ákos Koppány
|
Kiadó: |
Pannon Egyetem
|
Dátum: |
2016
|
Téma: |
T2 Technology (General) / műszaki tudományokáltalában
|
Nyelv: |
magyar
|
Típus: |
Thesis
NonPeerReviewed
|
Formátum: |
text
|
Azonosító: |
Kiss, Ákos Koppány (2016) Szemcsehatárok transzmissziós elektronmikroszkópos vizsgálati módszereinek fejlesztése = Development of characterization methods for grain boundaries using transmission electron microscopes. PhD thesis, Pannon Egyetem.
|
Kapcsolat: |
MTMT:3237543; doi:10.18136/PE.2016.621
|