Ugrás a tartalomhoz

Szemcsehatárok transzmissziós elektronmikroszkópos vizsgálati módszereinek fejlesztése = Development of characterization methods for grain boundaries using transmission electron microscopes

  • Metadata
Content: http://real-phd.mtak.hu/625/
Archive: REAL-PhD
Set: Status = Defended
Type = Thesis
University = Pannon Egyetem
Subject = T Technology / alkalmazott, műszaki tudományok: T2 Technology (General) / műszaki tudományokáltalában
Title:
Szemcsehatárok transzmissziós elektronmikroszkópos vizsgálati módszereinek fejlesztése = Development of characterization methods for grain boundaries using transmission electron microscopes
Creator:
Kiss, Ákos Koppány
Publisher:
Pannon Egyetem
Date:
2016
Subject:
T2 Technology (General) / műszaki tudományokáltalában
Language:
Hungarian
Type:
Thesis
NonPeerReviewed
Format:
text
Identifier:
Kiss, Ákos Koppány (2016) Szemcsehatárok transzmissziós elektronmikroszkópos vizsgálati módszereinek fejlesztése = Development of characterization methods for grain boundaries using transmission electron microscopes. PhD thesis, Pannon Egyetem.
Relation:
MTMT:3237543; doi:10.18136/PE.2016.621