Szemcsehatárok transzmissziós elektronmikroszkópos vizsgálati módszereinek fejlesztése = Development of characterization methods for grain boundaries using transmission electron microscopes
Szemcsehatárok transzmissziós elektronmikroszkópos vizsgálati módszereinek fejlesztése = Development of characterization methods for grain boundaries using transmission electron microscopes
Creator:
Kiss, Ákos Koppány
Publisher:
Pannon Egyetem
Date:
2016
Subject:
T2 Technology (General) / műszaki tudományokáltalában