| Tartalom: |
http://opac.elte.hu/F?func=direct&doc_number=000807236 |
| Archívum: |
EDIT |
| Gyűjtemény: |
Disszertációk (ELTE PHD)
Természettudományi Kar PHD
Fizika Doktori Iskola
|
| Cím: |
Diszlokáció struktúra -és ikerhatásrok karakterizációja vékony -és multirétegek esetén röntgen vonalprofil analízis alapján
|
| Létrehozó: |
Csiszár Gábor
|
| Közreműködő: |
Ungár Tamás (1943-)
ELTE TTK PHD/Fizika D. I.
|
| Dátum: |
2012
|
| Téma: |
mikroszerkezet
kristályszerkezet
anyagtudomány
röntgen vonalprofil analízis
doktori disszertáció
|
| Nyelv: |
magyar
angol
|
| Típus: |
info:eu-repo/semantics/other
|
| Formátum: |
application/pdf
application/pdf
application/pdf
|
| Azonosító: |
elte:Kd12332
elte:RD19028
LOMS: https://edit.elte.hu/xmlui/bitstream/10831/44938/2/Kd_12332.pdf
LOMS: https://edit.elte.hu/xmlui/bitstream/10831/44938/1/Kd_12332_t%c3%a9zis.pdf
LOMS: https://edit.elte.hu/xmlui/bitstream/10831/44938/3/Kd_12332_t%c3%a9zis_angol.pdf
|
| Létrehozó: |
info:eu-repo/semantics/openAccess
|
